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J-GLOBAL ID：200903041037622749

陽イオンの分析方法

Inventor： 徳田 俊夫 ,  長沢 光雄
Applicant, Patent owner： 昭和電工株式会社
Agent (1)： 寺田 實
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992174463
Publication number (International publication number)：1994018505
Application date： Jul. 01, 1992
Publication date： Jan. 25, 1994
Summary：

【要約】【構成】シリカゲル等の多孔性担体の表面に不飽和カルボン酸および/または不飽和カルボン酸ジエンモノマー共重合体とビニル化合物との共重合架橋体を被覆して得られる弱酸性陽イオン交換体を充填した分離カラムに燐酸の希釈水溶液からなる溶離液と陽イオンを含む試料とを流して、1価と2価の陽イオンを同時に分離し、次いで伝導度検出器等で検出する。【効果】保存性がよく調製が簡単な溶離液を用いて1価と2価の陽イオンを同時に分析することが可能であり、さらに、液体クロマトグラム装置に通常用いられているステンレス製の装置に対するカラムの耐久性が良好で、長時間連続運転しても劣化がおきないため経済的にも有利である。

Claim (excerpt)：

不飽和カルボン酸および/または不飽和カルボン酸ジエンモノマー共重合体とビニル化合物との共重合架橋体を多孔性担体の表面に被覆した弱酸性陽イオン交換体を充填した分離カラムに、燐酸の希釈水溶液からなる溶離液と陽イオンを含む試料とを流して陽イオンを分離した後、前記陽イオンを検出することを特徴とする陽イオンの分析方法。

IPC (5)：

G01N 30/88 ,  B01J 39/00 ,  B01J 39/06 ,  G01N 30/02 ,  G01N 30/26