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J-GLOBAL ID：200903041123926823

扁平上皮癌の診断用キット及び判定方法

Inventor： 藤田 能久 ,  中西 豊文 ,  谷川 允彦 ,  馬渕 秀明 ,  清水 章
Applicant, Patent owner： 財団法人大阪産業振興機構
Agent (3)： 三枝 英二 ,  掛樋 悠路 ,  木村 順子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007118582
Publication number (International publication number)：2008275413
Application date： Apr. 27, 2007
Publication date： Nov. 13, 2008
Summary：

【課題】扁平上皮癌の診断に有用なキット並びに判定方法を提供すること。【解決手段】扁平上皮癌の診断用キットであって、(1)ペロキシレドキシンVI(Peroxiredoxin VI)試薬、及び(2)前記ペロキシレドキシンVI 試薬に反応する自己抗体の測定用試薬を含んでなるキット、並びに、扁平上皮癌の判定方法であって、(1)被験者から採取した試料を、ペロキシレドキシンVI試薬と接触させる工程、(2)ペロキシレドキシンVI試薬に反応する前記試料中の自己抗体の存在又は量を測定する工程、及び(3)前記測定結果に基づき扁平上皮癌の評価を行う工程を含む方法。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

扁平上皮癌の診断用キットであって、 (1)ペロキシレドキシンVI(Peroxiredoxin VI)試薬、及び (2)前記ペロキシレドキシンVI 試薬に反応する自己抗体の測定用試薬 を含んでなるキット。

IPC (2)：

G01N 33/53 ,  G01N 33/574

FI (2)：

G01N33/53 N ,  G01N33/574 D