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J-GLOBAL ID:200903041224857652
MRI装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高崎 芳紘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993127127
Publication number (International publication number):1994335467
Application date: May. 28, 1993
Publication date: Dec. 06, 1994
Summary:
【要約】【目的】 SSFP3D計測時において、計測生データ中に混入するオフセット成分による障害陰影を、画像データと分離することを目的とする。【構成】 本発明は、SSFP3D計測時に、励起パルスの位相を各励起毎に順次πずつ変化させ、これに伴い、エンコード順序を、1スライスエンコードに対して、位相エンコードを順次同じ量だけ変化させ計測する手法とをとる。別法としては、同励起パルスで1スライスエンコード計測毎にスライスエンコード印加順序を逆転し計測する手法をとる。【効果】 本発明により、SSFP計測時において、NMR信号に重畳する直流成分による障害陰影を断層像上から分離し、画像領域の最端部に移動させることができる。
Claim (excerpt):
SSFP計測時に、被検査体のNMR信号の周波数を計測信号帯中の最高周波数を中心として分布するように計測することとしたMRI装置。
IPC (2):
FI (3):
A61B 5/05 312
, A61B 5/05 370
, G01N 24/02 M
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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特開平3-118043
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MRイメージング装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-215959
Applicant:株式会社島津製作所
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特開平3-118043
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