Pat
J-GLOBAL ID：200903041257078209
回転軸の変形検出方法および装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
,
Agent (1)：
筒井 大和 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998152369
Publication number (International publication number)：1999344395
Application date： Jun. 02, 1998
Publication date： Dec. 14, 1999
Summary：
【要約】【課題】 回転軸の変形や負荷を簡便な構成で非接触に測定する。【解決手段】 回転軸10の外周面に、軸方向に所定の距離を隔てて、それぞれ、二つの反射面11a、反射面11bおよび反射面12a、反射面12bを備えた第1反射溝11および第2反射溝12を周方向に刻設し、各々に臨む位置に、検査光ビーム31および検査光ビーム32を放射する第1光源21および第2光源22と、各反射面からの反射光31a、反射光31bを検出する光センサ41、光センサ42、および反射光32a、反射光32bを検出する光センサ51、光センサ52を配置し、回転軸10の変形に応じて変化する、光センサ41、42、51、52の出力を信号処理部60にて処理することにより、回転軸10の変形状態を検出信号出力61として外部に出力する回転軸の変形検出装置である。
Claim (excerpt)：
回転軸の外周部の軸方向に離間した位置に、各々が反射面を有する第1および第2の反射領域を配置するとともに、前記第1および第2の反射領域の各々に検査光を照射し、前記第1および第2の反射領域の各々の前記反射面にて反射される前記検査光の反射光路の変化に基づいて、前記回転軸の変形を検出することを特徴とする回転軸の変形検出方法。
IPC (2)：
FI (2)：
G01L 3/10 Z
, G01B 11/16 Z
