Pat

J-GLOBAL ID：200903041417139536

予測平均温感演算方法および装置

Inventor： 昆 昭彦
Applicant, Patent owner： 山武ハネウエル株式会社
Agent (1)： 山川 政樹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991210458
Publication number (International publication number)：1993010791
Application date： Jul. 29, 1991
Publication date： Jan. 19, 1993
Summary：

【要約】【目的】 演算処理の簡略化を図り、処理時間を短くすると共に、低価格化を促進する。【構成】 輻射温度Tr ,気温Ta ,気流速度Vair ,所定定数Tcr,係数b1〜b3 および係数nに基づき、下記(a)式により等価温度Teqを演算し、等価温度Teq,気温Ta ,相対湿度RH,飽和水蒸気圧Pa* ,衣服の熱抵抗Iclおよび係数a1〜a6に基づき、下記(c)式により予測平均温感PMV* を演算する。Teq=b1・Tr+b2・Ta-b3・Vairn・(Tcr-Ta)・・・(a)PMV* =a1 +a2 ・Ta +a3 ・RH・Pa* -〔a4 /(1+a5 ・Icl)〕・(a6 -Teq)・・・(c)

Claim (excerpt)：

輻射温度Tr ,気温Ta ,気流速度Vair ,所定定数Tcr,係数b1 〜b3 および係数nに基づき、下記(a)式により等価温度Teqを演算し、前記等価温度Teq,気温Ta ,相対湿度RH,飽和水蒸気圧Pa* ,衣服の熱抵抗Icl,皮膚温Tsk,活動量Mおよび任意の定数D1 〜D8 に基づき、下記(b)式により予測平均温感PMV* を演算する予測平均温感演算方法。 Teq=b1・Tr+b2・Ta-b3・Vairn・(Tcr-Ta)・・・(a) PMV* =(0.303 e-0.036・M・58.15+0.028 )・{D1 +D2 ・M-D3 ・Tsk+D4 ・M・Ta +(D5 +D6 ・M)・RH・Pa* -〔D7 /(1+D8 ・Icl)〕・(Tsk-Teq)}・・・(b)

IPC (4)：

G01D 21/00 ,  F24F 11/02 103 ,  G01J 5/00 ,  G01K 17/00