イオン移動度分析及びイオントラップ質量分析のための単一装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (6)：社本一夫 , 小野新次郎 , 小林泰 , 千葉昭男 , 富田博行 , 竹内茂雄
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2006517564
Publication number (International publication number)：2007524964
Application date： Jun. 21, 2004
Publication date： Aug. 30, 2007
Summary：

単一組の複数の電極であり、イオンの試料に対してイオン移動度に基づく分析と質量分析(MS)とを共に実行するために、単一組の複数の電極に異なる電位が異なる時間に印加されるが、そこでは、荷電粒子ならびに原子、分子、粒子、亜原子粒子、及びイオンに由来する荷電粒子を閉じ込め、分離し、断片化し、かつ/又は分析するために、イオン移動度に基づく分析と質量分析とを、任意の順序で、任意の回数で、かつ分離された又は重畳された手順として実行することによってイオンが処理される。本発明は、外部円筒電極(14)と同軸配置された環状棒電極(12)として示された、質量分析とFAIMSとを共に実行できる単一装置(10)である。FAIMSを実行するために、典型的に環状棒電極(12)は定電位又はグラウンドに維持され、非対称FAIMS波形が外部円筒電極(14)に印加される。

Claim (excerpt)：

荷電粒子と、原子、分子、粒子、亜原子粒子、およびイオンに由来する荷電粒子と、のイオン移動度及び質量対電荷比にしたがって、イオンを分離するために単一装置を使用する方法であって、前記方法は、 1)単一装置中のイオン移動度に基づく質量分析のシステムを提供する工程であって、前記単一装置は少なくとも2つの電極から構成され、前記2つの電極間に電界を生成するようにされている、イオン移動度に基づく質量分析のシステムを提供する工程と、 2)前記イオンの、イオン移動度、電荷、サイズ、質量、及び断面積に基づいて、イオンを分離する工程と、を含む方法。

IPC (4)：

H01J 49/40 , H01J 49/06 , H01J 49/42 , G01N 27/60

FI (5)：

H01J49/40 , H01J49/06 , H01J49/42 , G01N27/60 C , G01N27/60 D

F-Term (8)：

2G041BA02 , 2G041BA18 , 2G041CA01 , 2G041CA02 , 2G041GA08 , 2G041KA01 , 5C038FF04 , 5C038JJ13

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

大気圧3次元イオントラッピングのための装置および方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2000-564041 Applicant：ナショナルリサーチカウンシルカナダ
イオン移動度分光計
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-105740 Applicant：マインセイフティアプライアンセスカンパニ-
エレクトロスプレーを使用する高電界非対称イオン移動度分光分析方法および装置
Gazette classification：公表公報 Application number：特願2002-581074 Applicant：ザ・チャールズ・スターク・ドレイパー・ラボラトリー・インコーポレイテッド

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