Pat

J-GLOBAL ID：200903041515203374

プラントの監視診断方法及び監視診断システム並びにこれを備えたプラント

Inventor： 内田 俊介 ,  藤森 治男 ,  高橋 文信 ,  福崎 孝治 ,  山田 泉
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993119887
Publication number (International publication number)：1994331507
Application date： May. 21, 1993
Publication date： Dec. 02, 1994
Summary：

【要約】【目的】 プラントの製造、点検・補修及び運転等の履歴を考慮して、異常を的確に分析診断し、高信頼性、定期点検の簡略化が可能なプラントの監視診断方法及びシステムを実現する。【構成】 運転状態1、作動状態2、環境3がモニタ6を通して蓄積され複合されプラント状態量の集合8として集約され、水質・化学情報4がプラント状態量の集合9として蓄積される。状態量集合8は更新され過去データは状態量集合9として蓄積される。定期点検時のデータ5、水質・化学情報4も集合9として蓄積される。集合9はプラントカルテ11として縮約保存される。状態量予測12はプラント個性を配慮した予測を行う。集合8と10とのデータとが比較手段13で比較されほぼ一致すればプラントは正常であり一致しなければ異常と診断される。異常と診断された場合には異常の機器の同定、要因の同定が行われる。

Claim (excerpt)：

プラントの監視診断方法において、プラントの運転状態、機器の作動状態、環境状態を検出して、検出データを蓄積し、プラントの検査データを蓄積し、上記蓄積された検出データ及び検査データからなるプラントの履歴情報に基づいて、プラントの状態を診断することを特徴とするプラントの監視診断方法。

IPC (4)：

G01M 19/00 ,  G01D 21/00 ,  G05B 23/02 301 ,  G21C 17/00