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J-GLOBAL ID：200903041586165457

MRI装置における偽像除去法

Inventor： 滝口 賢治 ,  板垣 博幸 ,  塩野 英巳 ,  山本 悦治
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993302543
Publication number (International publication number)：1994277196
Application date： Dec. 02, 1993
Publication date： Oct. 04, 1994
Summary：

【要約】【目的】マルチエコー計測において、全てのエコー信号について位相補正をする偽像除去方法を提供する。【構成】エンコード傾斜磁場の印加を実質的に0とし、リードアウト傾斜磁場を振幅の極性を反転させながら印加して連続的に発生するエコー信号列において、エコー信号7の列の少なくとも1部からエコー信号列の位相8のずれ周期性を見出し、その周期性を用いて全てのエコー信号の位相ずれを検出することなく、全てのエコー信号の位相ずれを補正する。【効果】信号レベルの低いエコー信号の位相回転も正確に補正処理できる。

Claim (excerpt)：

関心領域を励起した後、第1の方向にリードアウト傾斜磁場を振幅の極性を反転させながら印加し、前記第1の方向に垂直な第2の方向へのエンコード傾斜磁場の印加を実質的に0とし、エコー信号を連続して発生させ、このエコー信号列の少なくとも1部からエコー信号の位相ずれを検出する第1のステップと、前記関心領域を励起した後、前記第1の方向にリードアウト傾斜磁場を振幅の極性を反転させながら印加し、前記第2の方向へのエンコード傾斜磁場を印加し、エコー信号を連続して発生させ、前記第1のステップから求めた位相情報を用いて前記エコー信号の少なくとも一部について位相補正した後、画像再構成する第2のステップからなることを特徴とするMRI装置における偽像除去法。

IPC (2)：

A61B 5/055 ,  G01N 24/08

FI (4)：

A61B 5/05 374 ,  A61B 5/05 312 ,  A61B 5/05 341 ,  G01N 24/08