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J-GLOBAL ID：200903041627432821

蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム

Inventor： 遠藤 富男
Applicant, Patent owner： オリンパス株式会社
Agent (1)： 酒井 宏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002381807
Publication number (International publication number)：2004212204
Application date： Dec. 27, 2002
Publication date： Jul. 29, 2004
Summary：

【課題】安価な構成で相対的な蛍光寿命を測定すること。【解決手段】発振器11は一定の周期のON/OFF信号を半導体レーザー1へ入力する。半導体レーザー1は発振器11の信号に従い、発振器11のON/OFFと同じタイミングでレーザー光をON/OFFする。CCD9は、試料6から放射された蛍光を一定時間蓄積して蛍光を積分する機能を持つ。まず、所定の周期でレーザー光を試料6に照射し、CCD9で蛍光像を撮像してコンピュータ10に取り込む。これを蛍光画像Aとする。次に、発振器11の出力をONにしたまま試料6に対してレーザー光を照射し、CCD9で蛍光像を撮像してコンピュータ10へ取り込む。この画像を、蛍光画像Bとする。そして、蛍光画像Aを蛍光画像Bで除算することにより、相対的な蛍光寿命を測定することができる。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

観測対象である試料に対して所定の周期で、又は連続して励起光を照射する光源と、 前記試料から放射された蛍光を一定時間蓄積することにより蛍光の光量を積分する蛍光積分手段と、 所定の周期で励起光を前記試料に照射した場合における積分された蛍光の光量を、連続して励起光を前記試料に照射した場合における積分された蛍光の光量で除算する演算手段と、 を備えたことを特徴とする蛍光顕微鏡。

IPC (1)：

G01N21/64

FI (2)：

G01N21/64 B ,  G01N21/64 E

F-Term (17)：

2G043AA06 ,  2G043BA16 ,  2G043CA05 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA03 ,  2G043GA06 ,  2G043GB21 ,  2G043HA09 ,  2G043HA15 ,  2G043KA02 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06