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J-GLOBAL ID:200903041654294589

微生物の自動特徴づけおよび分類

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (11): 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  白根 俊郎 ,  村松 貞男 ,  野河 信久 ,  橋本 良郎 ,  風間 鉄也
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2006507886
Publication number (International publication number):2006526765
Application date: May. 11, 2004
Publication date: Nov. 24, 2006
Summary:
本発明は、病院、給水、食品において、あるいはバイオテロで使用されたとき、制御されずに拡散する可能性のある微生物に関する情報を迅速に獲得するために使用される計器、方法およびソフトウェアプログラムに関する。振動分光法が1以上のデータベースにリンクされたコンピュータにデータを提供する。スペクトルデータとデータベースから検索された情報との比較が微生物を識別し、分類するために使用され、適切なアルゴリズムを提供する。このアルゴリズムは自己生成し、新しい分光学的データに自己適合する。システムは大発生の検出について警告することもできるし、あるいは消毒処置を行なうこともできる。微生物の伝統的な分類学的区分の変化は計器に対して影響を与えない。それは微生物系統の分類学的分類に関するアプリオリな知識に依存せず、簡単で、通常の微生物処置に容易に統合される。
Claim (excerpt):
振動分光計と、処理手段と、第1のスペクトルデータベース(10)と、および第1の情報データベース(200)とを備え、関心のあるサンプル中の微生物と第1のスペクトルデータベース中にその振動スペクトルが存在する微生物との振動分光学的類似性を確立することにより関心のあるサンプル中の微生物に関する情報を獲得するための計器において、 関心のあるサンプル中の微生物の振動スペクトル(160)を決定する分光計と、 前記分光計にリンクされ、分光計から得られた信号の解析および関心のあるサンプル中の微生物の分類(190)のためのコンピュータにより実行可能なソフトウェアコードを含むコンピュータプログラムを実行する処理手段とを具備し、 第1のスペクトルデータベース(10)は、前記処理手段にリンクされ、関心のあるサンプル中の微生物のスペクトルと第1のスペクトルデータベース(10)中にそのスペクトルが存在する微生物の振動スペクトルとの類似性を確立するために微生物のスペクトルを含まない、あるいは1以上の微生物を含んでおり、 第1の情報データベース(200)は、前記処理手段にリンクされ、前記第1のスペクトルデータベース(10)中にそのスペクトルが存在する微生物に関する追加情報を含んでおり、 分光学的類似性自身が関心のある微生物の分類(190)を決定し、関心のあるサンプル中の微生物の振動スペクトル(160)が後続するスペクトルの分類において使用されることを特徴とする計器。
IPC (3):
G01N 21/35 ,  G01N 21/65 ,  C12M 1/34
FI (3):
G01N21/35 Z ,  G01N21/65 ,  C12M1/34 A
F-Term (38):
2G043AA04 ,  2G043BA17 ,  2G043DA01 ,  2G043EA03 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043FA07 ,  2G043JA01 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06 ,  2G059BB05 ,  2G059BB11 ,  2G059BB12 ,  2G059BB15 ,  2G059CC20 ,  2G059DD01 ,  2G059EE01 ,  2G059EE03 ,  2G059EE12 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM10 ,  4B029AA07 ,  4B029AA08 ,  4B029BB01 ,  4B029BB02 ,  4B029CC01 ,  4B029CC02 ,  4B029CC03 ,  4B029CC07 ,  4B029FA03
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
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