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J-GLOBAL ID：200903041664518744
誘電率の測定方法とその装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高崎 芳紘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997334389
Publication number (International publication number)：1999166951
Application date： Dec. 04, 1997
Publication date： Jun. 22, 1999
Summary：
【要約】【課題】 マイクロ波・ミリ波領域に於ける誘電体の誘電率を、簡単な装置で正確に測定する。【解決手段】 導波管で構成された誘電体内挿部2へ測定対象の誘電体を挿入し、その伝送特性を伝送特性測定装置1により測定する。そして処理装置3により、その測定した伝送特性を周波数に関して微分し、微分結果の絶対値がピークとなる周波数を遮断周波数として検出する。この遮断周波数は誘電体の誘電率の平方根に逆比例するので、容易に誘電率を算出できる。
Claim (excerpt)：
導波管に誘電体を内挿し、その誘電体を内挿した導波管の基本モードに対する遮断周波数を計測し、その計測により求めた遮断周波数から前記内挿した誘電体の誘電率を求めることを特徴とする誘電率の測定方法。
IPC (2)：
FI (3)：
G01R 27/26 H
, G01N 22/00 Y
, G01N 22/00 G
