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J-GLOBAL ID：200903041737287258
光方式の電界測定装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993034443
Publication number (International publication number)：1994230052
Application date： Jan. 30, 1993
Publication date： Aug. 19, 1994
Summary：
【要約】[目的] 電界を光学的に測定するものにおいて、光源を一定温度に保つことのよって出力光の波長を一定波長に維持して良好な検出特性を得る。[構成] 測定すべき電界を印加した電気光学結晶7に光源2からの光線を透過させて受光素子12で受光し透過光の電気光学効果による光学的な変化から上記電界を測定するものにおいて、上記光源2と上記受光素子12の発熱側とを熱的に結合させて受光素子12側の熱を光源2側へ移送するサーモ・モジュール21を具備すること、および上記光源2を一定温度に保つように上記サーモ・モジュール21による熱の移送量を制御する温度制御部23を具備することを特徴とするものである。
Claim (excerpt)：
測定すべき電界を印加した電気光学結晶に光源からの光線を透過させて受光素子で受光し透過光の電気光学効果による光学的な変化から上記電界を測定するものにおいて、上記光源と上記受光素子の発熱側とを熱的に結合させて受光素子側の熱を光源側へ移送するサーモ・モジュールを具備することを特徴とする光方式の電界測定装置。
IPC (2)：
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