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J-GLOBAL ID：200903041758040619

光測距装置

Inventor： 筆脇 雄一 ,  田宮 則宏 ,  石上 忠富
Applicant, Patent owner： 三菱電機株式会社
Agent (1)： 高田 守 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991216973
Publication number (International publication number)：1993052956
Application date： Aug. 28, 1991
Publication date： Mar. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】 無信号時の信号レベルを基に比較用の基準値を自動設定し、測距精度を向上させる。【構成】 送光器2の送光タイミングと、受光器3の受光タイミング相当の比較器7の出力タイミング間の伝播遅延時間を基に測距する。送光制御器9により送光を一時的に休止させ、この間、A/D変換器6により検出した信号レベルを基に閾値電圧発生器10により比較器7の基準値を可変設定する。【効果】 測距精度が簡単な構成で向上できる。

Claim (excerpt)：

送光パルスを送出する送光手段と、該送光パルスの反射体による反射光を受光する事により得られたパルス信号のレベルを検出する検出手段と、該検出手段により検出された信号レベルと基準値を比較する比較手段を備え、送光タイミングと上記比較手段の出力変化タイミング間の伝播遅延時間に基づいて上記反射体迄の距離を測定する光測距装置において、測距期間以外の時間帯に送光を一時的に休止させる送光制御手段と、該送光休止期間中に上記検出手段により検出された無信号時の信号レベルを基に上記比較手段の基準値を次回の測距サイクル用に可変設定する閾値電圧発生手段を備えた事を特徴とする光測距装置。