Pat

J-GLOBAL ID：200903042051692950

粒度分布測定装置

Inventor： 丹羽 猛
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 西田 新
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992257877
Publication number (International publication number)：1994109615
Application date： Sep. 28, 1992
Publication date： Apr. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】 乾式測定において試料濃度が変化しても、その影響を受けずに正確な測定結果を得ることのできる粒度分布測定装置を提供する。【構成】 光センサ群cの出力をモニタして光学系内への試料導入を判別する第1の判別手段e、試料導入後全光センサ出力中の最大値が所定範囲内に入っているか否かで試料濃度状態を判別する第2の判別手段f、適切濃度状態での最大値の前回最大値との差から濃度変化を判別する第3の判別手段g、適切濃度状態で変化が許容内のときに限り光センサ群cの出力を記憶する記憶手段h、記憶手段hの記憶内容が規定個に達したことを判別する第4の判別手段iを設け、記憶手段h内に規定個のデータが蓄積された時点でその内容を用いて粒度分布を算出する演算手段dを設ける。

Claim (excerpt)：

レーザ光源からの光を被測定粒子群に照射することにより得られる回折/散乱光の強度分布を光センサ群によって測定する光学系と、その光強度分布測定結果を用いて被測定試料群の粒度分布を算出する演算手段を備えた装置において、上記光センサ群のうちの所定個のセンサ出力をモニタして、そのいずれかがあらかじめ設定された第1値を超えたか否かの判別により試料が上記光学系内に導入されたか否かを判別する第1の判別手段と、試料導入判別後に全光センサ出力を取り込み、そのうちの最大値があらかじめ設定された第2値と第3値の範囲内に入っているか否かの判別により試料濃度が適切であるか否かを判別する第2の判別手段と、試料濃度適切状態での上記最大値と前回の試料濃度適切状態での最大値との差があらかじめ設定された第4値以内であるか否かを判別する第3の判別手段と、その第3の判別手段による判別結果に基づき、上記差が第4値以内である場合に限り上記全光センサ出力を有効データとして記憶する記憶手段と、その記憶手段内の有効データが規定個数に達したか否かを判別する第4の判別手段を有し、有効データが規定個数揃った時点で上記演算手段による算出を実行するよう構成されていることを特徴とする粒度分布測定装置。