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J-GLOBAL ID：200903042116024810

超音波診断装置

Inventor： 加 藤 隆 一
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 蔵合 正博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992300052
Publication number (International publication number)：1994142100
Application date： Nov. 10, 1992
Publication date： May. 24, 1994
Summary：

【要約】【目的】 被検体の診断部位に対する計測値と、その計測値の分布関数に対する統計値とを同時に表示することにより、容易で的確な診断と診断時間の短縮および診断ミスを防止する。【構成】 超音波探触子から被検体に対して超音波を送り、被検体からの反射超音波に基づき超音波画像を得る超音波画像処理部1と、被検体の診断部位を計測する計測部2と、診断部位の種類および被検体データを設定する設定部4と、被検体データから標準統計値を発生する発生部6と、標準統計値から計測部2の計測値に対する統計値を計算するパーセンタイル計算部7と、超音波画像を統計値および計測値とともに表示するモニタ11とを備えている。また、計算部7で計算された統計値は、比較部12で予め設定された正常範囲を示す警告音発生値と比較され、異常の場合はスピーカ14から警告音を発生する。

Claim (excerpt)：

超音波探触子から被検体に対して超音波を送り、被検体からの反射超音波に基づき超音波画像を得る超音波画像処理手段と、前記被検体の診断部位を計測する計測手段と、前記診断部位の種類および被検体データを設定する設定手段と、前記被検体データから標準統計値を発生する発生手段と、前記標準統計値から前記計測手段により得られた計測値に対する統計値を計算する統計値計算手段と、前記統計値および計測値を超音波画像とともに表示する表示手段とを備えた超音波診断装置。

IPC (2)：

A61B 8/00 ,  G01N 29/22 505

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭56-020443
  
• 特開昭58-022044
  
• 特開昭58-188438