Pat
J-GLOBAL ID：200903042235031779
X線コンピュータ断層撮影装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995169963
Publication number (International publication number)：1997019425
Application date： Jul. 05, 1995
Publication date： Jan. 21, 1997
Summary：
【要約】【課題】本発明の目的は、実測のX線パスと計算上のX線パスとのズレによる再構成誤差を軽減して画質を向上し得るX線コンピュータ断層撮影装置を提供することである。【解決手段】本発明は、コーンビーム状のX線を被検体に照射するX線管3が被検体から見て相対的に螺旋軌道を移動しながら被検体を透過したX線を複数の検出素子が2次元状に配列されてなる2次元アレイ型X線検出器5で検出し、得られた投影データを逆投影することにより撮影領域内に規定された複数のボクセル各々に関するX線吸収率を反映した逆投影データを求めるX線コンピュータ断層撮影装置において、特定のボクセルの逆投影データを、特定のボクセルの中心とX線焦点とを結ぶ計算上のX線パスと2次元アレイ型X線検出器5の検出器面との交点の周囲で実測された複数の投影データに基づいて求めることを特徴とする。
Claim (excerpt)：
コーンビーム状のX線を被検体に照射するX線管が前記被検体から見て相対的に螺旋軌道を移動しながら前記被検体を透過したX線を複数の検出素子が2次元状に配列されてなる2次元アレイ型X線検出器で検出し、得られた投影データを逆投影することにより撮影領域内に規定された複数のボクセル各々に関するX線吸収率を反映した逆投影データを求めるX線コンピュータ断層撮影装置において、特定のボクセルの逆投影データを、前記特定のボクセルの中心とX線焦点とを結ぶ計算上のX線パスと前記2次元アレイ型X線検出器の検出器面との交点の周囲で実測された複数の投影データに基づいて求めることを特徴とするX線コンピュータ断層撮影装置。
IPC (4)：
A61B 6/03 320
, A61B 6/03
, A61B 6/03 321
, A61B 6/03 350
A61B 6/03 320 B
, A61B 6/03 320 Y
, A61B 6/03 321 N
, A61B 6/03 350 R
