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J-GLOBAL ID：200903042298572923
光パルス試験器
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西村 教光
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992320637
Publication number (International publication number)：1994167417
Application date： Nov. 30, 1992
Publication date： Jun. 14, 1994
Summary：
【要約】【目的】 測定者にかかる作業を軽減し、簡単な操作によりパルス幅を最適値に自動的に補正設定して即座に測定動作に移行できる。【構成】 パルス幅初期設定手段18aは測定者が選択した測定範囲に応じて初期のパルス幅H0を設定する。レベル検出手段18bは初期パルス幅H0による波形データでしきい値を越える遠端のポイントを検出する。差分データ演算手段18cは波形データの所定の差分間隔による差分データを演算する。差分データ検出手段18dは差分データでしきい値を越える遠端のポイントを検出する。遠端判定手段18eはレベル検出点P1と差分検出点P2を比較して遠端の有無を判定する。レベル測定手段18fは遠端判定に基づいてノイズレベルを越える信号レベルLを測定する。パルス幅可変手段18gは信号レベルLに基づいて補正パルス幅H1を算出し、初期パルス幅H0を補正パルス幅H1に可変する。
Claim (excerpt)：
所定パルス幅の光パルスを被測定光ファイバ(9)に入射し、この光パルスの入射に伴って前記被測定光ファイバから戻ってくる反射光を信号処理し、その結果を表示器(7)の画面上に波形表示して前記被測定光ファイバの光損失や障害点位置等の測定を行う光パルス試験器において、前記表示器の画面上で指定されたポイントの信号のノイズレベルが予め設定された規定値範囲内に収まるように前記光パルスのパルス幅を可変する手段(8)を備えたことを特徴とする光パルス試験器。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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