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J-GLOBAL ID：200903042301162707

非同期2線2相式スキャン回路及び診断方法

Inventor： 平野 潤
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996060574
Publication number (International publication number)：1997251058
Application date： Mar. 18, 1996
Publication date： Sep. 22, 1997
Summary：

【要約】【課題】少ない回路オーバヘッドで診断容易化回路を構成する。【解決手段】非転送状態と転送完了状態を2つの信号線で表現し、シフト要請信号により、転送を開始する信号を送り、転送完了状態を受け取ると、転送停止要求を送り、非転送状態により転送が停止したのちに、シフト要請信号を次段の転送制御回路に送る転送制御回路を用いて、論理回路の記憶素子へのテスト系列の書き込みと読みだしをする。

Claim (excerpt)：

非転送状態と転送完了状態の2相を2つの信号線で表現し、シフト要請信号により、転送を開始する信号を送り、転送完了状態を受け取ると、転送停止要求を送り、非転送状態により転送が停止したのちに、シフト要請信号を次段の転送制御回路に送る転送制御回路を用いて、論理回路の記憶素子へのテスト系列の書き込みと読みだしをすることを特徴とするスキャン回路。

IPC (4)：

G01R 31/28 ,  G06F 11/22 360 ,  H03K 3/02 ,  H03K 19/00

FI (5)：

G01R 31/28 G ,  G06F 11/22 360 U ,  H03K 3/02 Z ,  H03K 19/00 B ,  G01R 31/28 V