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J-GLOBAL ID：200903042320251370

心血管イベント発症リスクの診断方法

Inventor： 井上 健司 ,  代田 浩之 ,  濱田 里子 ,  向井 済 ,  相良 三奈
Applicant, Patent owner： 学校法人順天堂 ,  向井 済 ,  株式会社ペルセウスプロテオミクス
Agent (6)： 特許業務法人アルガ特許事務所 ,  有賀 三幸 ,  高野 登志雄 ,  中嶋 俊夫 ,  村田 正樹 ,  山本 博人
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008144235
Publication number (International publication number)：2009288219
Application date： Jun. 02, 2008
Publication date： Dec. 10, 2009
Summary：

【課題】心血管イベントの発症リスクの判定方法を提供する。【解決手段】対象患者由来の被検試料中のPTX3濃度を測定することを特徴とする心血管イベントの発症リスクの判定方法。心血管イベントが、心室性頻拍、重症冠硬化症及び完全房室ブロックから選ばれるものである。対象患者が、慢性動脈硬化症患者である。PTX3濃度を経時的に2回以上測定し、2倍以上になった場合に発症リスクが高いと判定する。被検試料が、血液、血清または血漿である。被検試料が、血液、血清または血漿である。PTX3測定試薬を含有する心室性頻拍、重症冠硬化症及び完全房室ブロックから選ばれる心血管イベントの発症リスクの診断薬。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

対象患者由来の被検試料中のPTX3濃度を測定することを特徴とする心血管イベントの発症リスクの判定方法。

IPC (1)：

G01N 33/53

FI (1)：

G01N33/53 D

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 米国特許出願公開第2004/0137544号明細書
  
• 国際公開第2008/012941号パンフレット