Pat
J-GLOBAL ID:200903042364564635

X線検査システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997274423
Publication number (International publication number):1999108858
Application date: Oct. 07, 1997
Publication date: Apr. 23, 1999
Summary:
【要約】【課題】 被測定物が任意のタイミングで移動してくる場合であっても明瞭かつ確実にX線透視像を撮像し、また、被測定物が通過する位置が不定であっても一定倍率のX線透視像を得る。【解決手段】 X線源10と、ゲート信号に基づいてX線透視像を撮像するX線イメージインテンシファイア20と、被測定物2の通過を検知するX線センサ31,32と、X線センサ31,32それぞれから出力された信号に基づいて所定の時刻にゲート信号を発生するゲート信号発生部40と、撮像されたX線透視像を格納するフレームメモリ50と、X線センサ31,32それぞれから出力された信号に基づいてX線透視像の拡大率を算出する拡大率算出回路60と、その拡大率に基づいてX線透視像を拡大または縮小する画像処理部70と、その拡大または縮小されたX線透視像を表示する映像モニタ部80と、を備える。
Claim (excerpt):
一定方向に移動している被測定物のX線透視像に基づいて該被測定物を検査するX線検査システムであって、前記被測定物のうち一定範囲に存在するものに向けてX線を照射するX線源と、前記X線源によりX線が照射された前記被測定物のX線透視像をゲート信号の指示に基づいて撮像するX線撮像器と、前記X線撮像器の撮像範囲に前記被測定物が到る前にその被測定物を検知する被測定物検知手段と、前記被測定物検知手段による前記被測定物の検知に基づいて、前記被測定物が前記撮像範囲を通過する時刻を求め、その時刻に前記ゲート信号を発生するゲート信号発生手段と、を備えることを特徴とするX線検査システム。
IPC (3):
G01N 23/04 ,  G01T 1/00 ,  G01V 5/00
FI (3):
G01N 23/04 ,  G01T 1/00 Z ,  G01V 5/00 A

Return to Previous Page