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J-GLOBAL ID：200903042381316238

測距装置

Inventor： 大塚 正典 ,  常宮 隆信
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 中村 稔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991099719
Publication number (International publication number)：1993322558
Application date： Apr. 05, 1991
Publication date： Dec. 07, 1993
Summary：

【要約】【目的】 近距離側及び遠距離側の測距能力・測距精度を向上させ、構造を簡単にする。【構成】 対象物までの距離に応じて、受光センサ10上の受光スポット像の大きさを、受光光学系駆動手段5により変化させ、受光スポット像がシャープに結像した状態で測距動作を行う。

Claim (excerpt)：

発光素子を含み、該発光素子からの信号光を対象物に向けて投光する投光手段と、受光素子を含み、前記投光手段から投光され、対象物によって反射された信号光を受光素子に結像させる受光手段と、前記受光素子からの受光信号により対象物までの距離を演算する演算手段とを備えた測距装置において、対象物までの距離に応じて、前記投光手段による投光スポット像と前記受光手段による受光スポット像の少なくとも一方の大きさを変化させるスポット像調節手段を設けたことを特徴とする測距装置。

IPC (2)：

G01C 3/06 ,  G02B 7/32

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭60-095307
  
• 特公昭50-023195
  
• 特公昭51-026707