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J-GLOBAL ID：200903042417331417

3次元形状測定方法

Inventor： 武田 光夫 ,  木下 雅也 ,  顧 全 ,  高井 英明 ,  高橋 洋祐
Applicant, Patent owner： 株式会社オプトン
Agent (1)： 足立 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997050566
Publication number (International publication number)：1998246612
Application date： Mar. 05, 1997
Publication date： Sep. 14, 1998
Summary：

【要約】【課題】不連続段差や相互に接続点をもたない被測定物を、瞬時に測定でき、振動や空気の微小ゆらぎなどの影響を受けにくい3次元形状測定方法を得る。【解決手段】周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子を重畳させた2次元格子パターンを被測定物6a,6b,7に投影し、被測定物6a,6b,7の3次元形状に応じて変形した2次元格子像10を撮像し、2次元格子像10から各1次元格子成分毎に位相を検出し、各位相に基づいて3次元形状の測定値を得る。

Claim (excerpt)：

3次元形状の被測定物に格子パターンを投影し、この格子像から前記被測定物の3次元形状の測定値を得る3次元形状測定方法において、周期と向きとが互いに異なる複数の1次元格子を重畳させた2次元格子パターンを前記被測定物に投影し、前記被測定物の3次元形状に応じて変形した2次元格子像を撮像し、該2次元格子像から前記各1次元格子成分毎に位相を検出し、該各位相に基づいて前記測定値を得ることを特徴とする3次元形状測定方法。

IPC (2)：

G01B 11/24 ,  G06T 7/00

FI (3)：

G01B 11/24 A ,  G01B 11/24 K ,  G06F 15/62 415

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 特開平4-220510
  
• 特開昭63-044107
  
• 特開昭61-260107