Pat

J-GLOBAL ID：200903042453522601

プロセス量計測装置

Inventor： 室之園 裕 二
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991212342
Publication number (International publication number)：1993053658
Application date： Aug. 23, 1991
Publication date： Mar. 05, 1993
Summary：

【要約】【目的】 複数のセンサのうちのいくつかに異常が生じた場合に各検出値の平均値についての演算を正確に行えるようにする。【構成】 センサ1-1,1-2,...,1-nのうち、例えば、1-2に異常が生じたとすると、センサ異常検出手段3-2は異常検出信号を出力する。異常センサ判別手段6は、異常が生じた個数αについて、α=1の判別信号を出力する。また、切換部4-2は増幅部2-2からの信号をそのまま出力せず、代わりにゼロ相当信号を出力する。したがって、平均値演算手段5における演算式は(I1 +I2 +...In )/(n-α)において、I2 =0,α=1を代入したものとなる。

Claim (excerpt)：

プラントのプロセス量を計測する場合に、複数のセンサからの各検出値の平均値を計測値として用い、また、この複数のセンサのうちのいずれかに異常が生じた場合には、その異常に係るセンサを除いた他のセンサからの各検出値に基いて前記平均値の演算を行なうプロセス量計測装置において、前記複数のセンサのそれぞれに設けられた複数のセンサ異常検出手段と、前記複数のセンサ異常検出手段からの異常検出信号の入力により、異常が生じたセンサ数又はその位置に対応する判別信号を出力する異常センサ判別手段と、前記異常センサ判別手段の各判別信号毎に所定の演算式が予め定められており、該判別信号を入力したときに、この演算式に基いて前記平均値を演算する平均値演算手段と、を備えたことを特徴とするプロセス量計測装置。

IPC (4)：

G05D 23/22 ,  G01D 21/00 ,  G05B 9/03 ,  G05D 23/24