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J-GLOBAL ID：200903042492964638

自動分析装置

Inventor： 山岸 和年 ,  内田 亮 ,  但馬 維昭
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 波多野 久 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992322002
Publication number (International publication number)：1994174731
Application date： Dec. 01, 1992
Publication date： Jun. 24, 1994
Summary：

【要約】【目的】サンプルを有効に利用することができる自動分析装置を提供する。【構成】本発明の自動分析装置は、入力された測定項目を測定するのに必要なサンプルの量を演算可能な演算部2と、サンプルを吸引吐出可能な吸引吐出機構3と、演算されたサンプル量にしたがって吸引吐出機構3を制御可能な制御部4と、吸引吐出機構4の吸引圧あるいは吐出圧を検出可能な圧力センサ20とを備え、演算部2は、圧力センサ20からの信号に応答して吸引開始から吸引圧異常発生時点までに吸引されたサンプルの量を吸引済サンプル量として演算するとともに、吸引済サンプル量で測定可能な項目を測定項目から選択しそれぞれの項目について吐出量を演算する一方、制御部4は、吸引済のサンプルが吐出量ごとに吐出されるように吸引吐出機構3を制御するようにしてある。

Claim (excerpt)：

入力された測定項目を測定するのに必要なサンプルの量を演算可能な演算部と、サンプルを吸引吐出可能な吸引吐出機構と、演算されたサンプル量にしたがって前記吸引吐出機構を制御可能な制御部と、前記吸引吐出機構の吸引圧あるいは吐出圧を検出可能な圧力センサとを備え、前記演算部は、前記圧力センサからの信号に応答して吸引開始から吸引圧異常発生時点までに吸引されたサンプルの量を吸引済サンプル量として演算するとともに、前記吸引済サンプル量で測定可能な項目を前記測定項目から選択しそれぞれの項目について吐出量を演算する一方、前記制御部は、吸引済のサンプルが前記吐出量ごとに吐出されるように前記吸引吐出機構を制御するようになっていることを特徴とする自動分析装置。