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J-GLOBAL ID：200903042514331731

自動分析装置

Inventor： 佐藤 剛 ,  高橋 克明
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993038134
Publication number (International publication number)：1994249857
Application date： Feb. 26, 1993
Publication date： Sep. 09, 1994
Summary：

【要約】【目的】 各種基準的測定をも自動的に実行できる自動分析装置を実現して、労力を削減し、装置定数の算出精度を向上する。【構成】 キーボード21の開始キーが押されるとCRT18に基準的測定法選択画面が表示される。メッセージに従って測定法の番号がキーボード21から入力され選択された基準的測定法画面が表示される。評価用基準物質、分析試薬番号、濃度・希釈系列番号、測定数が入力され、測定が開始される。各測定値の相対吸光度が算出部36で算出され100±3%以内かが判断される。算出部36により、装置定数Kが算出され定数Kの平均値、標準偏差から定数Kのばらつきが3.0%以内かが判定される。3.0%以内であれば正常であることを表示させ測定されたデータ及び計算結果がメモリ35に格納される。測定結果を打出す場合は、CRT18又はプリンタ17に測定データ及び計算結果が出力される。

Claim (excerpt)：

被検試料が配置される被検試料配置部と、試薬が配置される試薬配置部と、上記被検試料と試薬とが混合され被検試料の物理的特性が抽出される反応抽出部と、操作者の指令が入力される入力手段と、この入力手段からの指示に従って、上記被検試料配置部及び試薬配置部の動作を制御するとともに、上記反応抽出部によって抽出された物理的特性から被検試料の特定の項目を分析する分析制御部と、を有する自動分析装置において、上記分析制御部は、上記入力手段からの指令に従って、上記被検試料配置部、試薬配置部及び反応抽出部を制御して、基準的測定を実行させる基準的測定制御部と、上記基準的測定に基づき、上記反応抽出部により抽出された物理的特性から、装置定数を算出する装置定数算出部と、を備えることを特徴とする自動分析装置。