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J-GLOBAL ID：200903042566722860

電解質測定装置

Inventor： 沖 直人
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993133166
Publication number (International publication number)：1994341970
Application date： Jun. 03, 1993
Publication date： Dec. 13, 1994
Summary：

【要約】【目的】装置流路内に滞留する試薬成分組成の安定性が改善されて測定データの信頼性を向上させること。【構成】本電解質測定装置の流路系は希釈槽,3項目の一体電極,比較電極,シリンジ,2方電磁弁,比較電極液ボトル,内部標準液ボトル,希釈液用ボトル,廃液用ボトル,銀製内部標準液流路,銀製希釈液流路,内部標準液ボトル用銀製錘,希釈液ボトル用銀製錘より構成される。【効果】電解質測定装置試薬流路内の微生物繁殖を抑制し、試薬中の成分組成の安定性が改善されて測定データの信頼性が向上する。

Claim (excerpt)：

イオン電極を検出器とする電解質測定装置において、流路系の一部に銀を露出させたことを特徴とする電解質測定装置。

IPC (3)：

G01N 27/28 321 ,  G01N 27/28 ,  G01N 33/84