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J-GLOBAL ID:200903042603754859

DNA検査方法及びDNA検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 作田 康夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999283826
Publication number (International publication number):2001108684
Application date: Oct. 05, 1999
Publication date: Apr. 20, 2001
Summary:
【要約】【課題】1点ずつ検出する従来法では、多数のセルからなるDNAチップを高速検出できない。また異物の影響を除去することが難しく、検出したい絵素寸法がDNAチップの場合小さくなり蛍光面に焦点を合わせる必要があるが従来困難であった。【解決手段】DNAチップにマルチスポットアレイ光を同時に励起照射し、蛍光を同時に検出する。更にアレイ光をアレイ方向に移動すると共に少なくともアレイと直角な方向に検出系とチップを相対移動し、高速・正確に検査する。異物からの励起光散乱を検出し、蛍光検出結果を補正する。また蛍光面に第2の光を斜め照射し、反射光の位置検出から蛍光面にフォーカスを併せる。
Claim (excerpt):
複数の種類からなる所望のDNA断片を予め決められた一定の規則に基づき配列した微小エリアである複数Lのセルから構成されているDNAチップに、検査対象であるDNAから前処理により作成したDNA断片に所望の蛍光体を付加したターゲットをハイブリダイゼーションした被検査DNAチップに所望の波長からなる励起光を照射し、得られる蛍光を分析するDNA検査方法おいて、上記各セルの寸法D以下のスポット径dである複数Mのマルチスポット励起光を互いに異なる位置に蛍光減衰時間以上の時間Δtに亘り対物レンズを用いて同時に照射し、得られる蛍光を蛍光検出光路に導き、上記DNAチップへのマルチスポット励起光により発生した各マルチスポット光からの蛍光を分離して検出し、蛍光の位置と強度から被検査DNAチップの検査を行うDNA検査方法。
IPC (8):
G01N 33/58 ZNA ,  C12M 1/00 ,  C12N 15/09 ,  C12Q 1/68 ,  G01N 21/64 ,  G01N 33/50 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/566
FI (8):
G01N 33/58 ZNA A ,  C12M 1/00 A ,  C12Q 1/68 A ,  G01N 21/64 F ,  G01N 33/50 P ,  G01N 33/53 M ,  G01N 33/566 ,  C12N 15/00 A
F-Term (51):
2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043DA02 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043GA02 ,  2G043GA04 ,  2G043GB01 ,  2G043GB19 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA05 ,  2G043HA09 ,  2G043JA03 ,  2G043JA04 ,  2G043KA02 ,  2G043KA05 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G045AA13 ,  2G045AA35 ,  2G045CA25 ,  2G045DA13 ,  2G045FA12 ,  2G045FA15 ,  2G045FA29 ,  2G045FB02 ,  2G045FB07 ,  2G045FB12 ,  2G045GC15 ,  2G045JA07 ,  2G045JA08 ,  4B024AA11 ,  4B024AA19 ,  4B024CA04 ,  4B024HA14 ,  4B029AA07 ,  4B029AA23 ,  4B029FA10 ,  4B063QA01 ,  4B063QQ08 ,  4B063QQ42 ,  4B063QR32 ,  4B063QR66 ,  4B063QS34 ,  4B063QX02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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