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J-GLOBAL ID：200903042628855110

示差屈折率分光スペクトル測定装置

Inventor： 酒井 真澄
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 縣 浩介
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991103684
Publication number (International publication number)：1993072125
Application date： Feb. 22, 1991
Publication date： Mar. 23, 1993
Summary：

【要約】【目的】 流通している試料について、示差屈折率と吸光スペクトルとを同時に測定すること。【構成】示差屈折セルDを透過した光を分光器Mに入射させ、示差屈折セルによる光束の偏向方向と分光器の光分散方向とを直交させ、2次元的な位置分解能を有する光検出手段6の受光面上にスペクトル像を形成させて、スペクトル像の基準レベルの上下位置のずれにより示差屈折率を求めるようにした。

Claim (excerpt)：

示差屈折セルと分光器と2次元的位置分解能を有する光検出手段とよりなり、示差屈折セルを透過した光束を上記分光器により、上記示差屈折セルによる光束の偏向方向と直角の方向に分散させて、上記2次元的位置分解能を有する光検出手段の受光面上にスペクトル像を形成させるようにしたことを特徴とする示差屈折率分光スペクトル測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/41 ,  G01N 21/27