核医学診断装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴江武彦 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000057522
Publication number (International publication number)：2000321357
Application date： Mar. 02, 2000
Publication date： Nov. 24, 2000
Summary：

【要約】【課題】本発明の目的は、核医学診断装置において、放射線検出器内での散乱に起因する入射位置誤認の確率を減らすことにある。【解決手段】本発明に係る核医学診断装置は、複数の半導体セルを有する放射線検出器50,51と、2以上の半導体セルから略同時に2以上の信号が出力されるとき、2以上の信号のトータルエネルギーを計算し、このトータルエネルギーを所定のエネルギーウインドウに比較することにより特定のイベントを選別し、このイベントを入射位置を関連付けて計数する信号処理回路40と、2以上の半導体セルの中のいずれか一の半導体セルの位置に基づいて放射線の入射位置を計算する位置計算回路44と、計数の結果に基づいて被検体内の放射性同位元素の分布を発生する回路41とを具備する。

Claim (excerpt)：

マトリクス状にアレイされ、放射線を個別に検出し、前記放射線のエネルギーを表す信号を個別に出力する複数の半導体セルを有する少なくとも1つの放射線検出器と、前記放射線が検出されるイベントの中から、被検体に投与した放射性同位元素に由来する放射線が検出されるという特定のイベントを選別するために、前記半導体セルのいずれか一つから信号が出力されるという第1のケースでは前記信号のエネルギーを所定のエネルギーウインドウに比較すると共に、2以上の半導体セルから略同時に2以上の信号が出力されるという第2のケースでは前記2以上の信号のトータルエネルギーを計算し、このトータルエネルギーを前記所定のエネルギーウインドウに比較する選別回路と、前記第1のケースでは前記信号を出力する半導体セルの位置に基づいて前記放射線の入射位置を計算し、前記第2のケースでは前記2以上の半導体セルの中のいずれか一の半導体セルの位置に基づいて前記放射線の入射位置を計算する位置計算回路と、前記特定のイベントを前記計算された入射位置を関連付けて計数する計数回路と、前記計数の結果に基づいて前記被検体内の放射性同位元素の分布を発生する回路とを具備することを特徴とする核医学診断装置。

IPC (4)：

G01T 1/161 , G01T 1/164 , G01T 1/172 , G01T 1/29

FI (5)：

G01T 1/161 C , G01T 1/164 A , G01T 1/164 G , G01T 1/172 , G01T 1/29 D

F-Term (15)：

2G088EE02 , 2G088EE27 , 2G088FF04 , 2G088FF14 , 2G088GG20 , 2G088GG21 , 2G088JJ05 , 2G088KK01 , 2G088KK15 , 2G088KK21 , 2G088KK24 , 2G088KK29 , 2G088KK35 , 2G088LL09 , 2G088LL13

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

放射線位置検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-193470 Applicant：浜松ホトニクス株式会社
特開昭62-206479
特開昭59-034180

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