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J-GLOBAL ID：200903042747358796

流れ解析装置

Inventor： 服部 宜弘 ,  小川 修 ,  児玉 久
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 中島 司朗
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995029863
Publication number (International publication number)：1996221386
Application date： Feb. 17, 1995
Publication date： Aug. 30, 1996
Summary：

【要約】【目的】 工数と計算時間の削減を図れる複合メッシュによる流れ解析装置を提供する。【構成】 全領域を対象とした粗なメッシュ及びその一部領域を対象とした密なメッシュ毎にメッシュ切り及び計算条件が設定された流れ解析装置において一部領域用のメッシュ切りのデータ等をあらかじめ作成しておく。そして、一部領域の解析に際して、あらかじめ作成されたメッシュ切り等を使用する。【効果】 複合メッシュ計算にあたり、一部領域等の計算のためのメッシュ切り、計算条件の設定などの工数と、計算が時間の削減が図れる。

Claim (excerpt)：

解析対象の領域を本来は単一寸法の長方形にメッシュ分割し、該長方形毎にそこを占めることとなる物質の物性値と境界条件あるいは初期条件の少くも一を使用して繰り返し計算を行い、変数、長方形の少くも一毎に計算の収束結果を得ることにより、解析対象の領域を解析する構成の流れ解析装置において、上記解析対象の領域の一部について、より精密な解析を目的として別個の繰り返し計算を行う対象として指定可能とする一部領域指定部と、前記一部領域指定部にて指定された一部領域を、全領域よりも密となる寸法若しくはこれに併せて三辺の少なくも一の方向が全領域のものと異なるかつ単一寸法の長方形にメッシュ分割可能とする一部領域メッシュ分割部と、全領域を対象にして解析した結果若しくは途中結果の少なくも一方を使用して、前記一部領域指定部にて指定された領域若しくは該一部領域解析用の長方形の少くも一について境界条件若しくは初期条件の少なくも一を補間により作成する一部領域用境界初期条件作成部と、前記一部領域メッシュ分割部にて分割された密な長方形毎にそこを占めることとなる物質の物性値と、前記一部領域用境界初期条件作成部の作成結果を使用して繰り返し計算を行い、変数、密な長方形の少くも一毎に計算の収束結果を得ることにより、解析対象の一部の領域を緻密に解析する一部領域用計算部とを有していることを特徴とする流れ解析装置。

IPC (3)：

G06F 17/13 ,  F24F 11/02 ,  G06F 17/50

FI (3)：

G06F 15/328 ,  F24F 11/02 Z ,  G06F 15/60 612 H