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J-GLOBAL ID：200903042773981205

電子顕微鏡の試料装置

Inventor： 成瀬 幹夫
Applicant, Patent owner： 日本電子株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994147692
Publication number (International publication number)：1996017381
Application date： Jun. 29, 1994
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：

【要約】【目的】 試料を簡単に交換できる電子顕微鏡の試料装置を提供する。【構成】 試料ホルダに装着されるカートリッジ本体を有し、カートリッジ本体の先端部にメッシュ状部が形成されている。ミクロトームでスライスされた試料等はカートリッジ本体の先端部にあるメッシュ状部で掬い上げられることにより、メッシュ状部に載置される。そのため、工具等を用いることなく、簡単に試料をカートリッジにマウントして試料を交換することができる。

Claim (excerpt)：

試料ホルダと、該試料ホルダに脱着自在に装着されるカートリッジ本体と、該カートリッジ本体の先端に形成されたメッシュ状部を備えた電子顕微鏡の試料装置。