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J-GLOBAL ID:200903042812076531

試験を実施するための方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 川口 義雄 (外2名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000567948
Publication number (International publication number):2002523779
Application date: Jul. 22, 1999
Publication date: Jul. 30, 2002
Summary:
【要約】自動試料分析のための方法及び装置(10)。前記装置は複数のコンパートメント(13,22,26,28,30,32)及び入口ポート(12)につながる通路(16)を有し、コンパートメント(13)及びポータル(24,34,36,38,40)は相互に連結している。
Claim (excerpt):
試料受容コンパートメント及び信号検出コンパートメントを含めた複数のコンパートメントを有し、その少なくとも1つのコンパートメントに試薬を収容してなる容器を用意し、 試料を試料受容コンパートメントに受容し、 前記容器の表面を複数のアクチュエータを有するデバイスと接触させ、 試料の少なくとも一部を複数のアクチュエータを用いて試料受容コンパートメントから試料検出コンパートメントに移動させ、 試料を試薬と反応させて、アナライトの存在に応じて信号を発生させることを含むことを特徴とする試料をアナライトについて試験する方法。
IPC (3):
G01N 33/543 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/531
FI (3):
G01N 33/543 ,  G01N 33/53 T ,  G01N 33/531
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)

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