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J-GLOBAL ID：200903042895641138
成形品検査方法及び成形制御方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
石田 長七 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994077409
Publication number (International publication number)：1995286836
Application date： Apr. 15, 1994
Publication date： Oct. 31, 1995
Summary：
【要約】【目的】 不良の検出率を高くすることができる上に検査処理に要する時間の短縮を図ることができる。【構成】 複数の型を有する多数個取りの成形機で成形された検査対象物を撮像して得られた画像を基に検査対称物の検査を行う。この時、検査対称物の特定部の画像から検査対称物がどの型で成形されたものであるかの識別を行って、識別した種類ごとに予め設定してある検査対称領域や判定しきい値を用いて検査を行う。成形不良が生じた型を特定することができる上に、各型ごとに検査条件を設定するために、より好ましい検査条件で且つ不要な検査条件を含まない状態で検査処理を行うことができる。
Claim (excerpt)：
複数の型を有する多数個取りの成形機で成形された検査対象物を撮像して得られた画像を基に検査対称物の検査を行うにあたり、検査対称物の特定部の画像から検査対称物がどの型で成形されたものであるかの識別を行い、識別した種類ごとに予め設定してある検査対称領域や判定しきい値を用いて検査を行うことを特徴とする成形品検査方法。
IPC (3)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, H04N 7/18
