マイクロレーザー付き測距装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：西脇民雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995257416
Publication number (International publication number)：1996122434
Application date： Oct. 04, 1995
Publication date： May. 17, 1996
Summary：

【要約】【課題】短距離及び中間距離測定可能性(100m〜2000m)、可能な限り一体の小型装置、スイッチング制御を要求されない簡略化された電子光学回路、視覚安全基準を満足すること、量産により低コストで製造可能という条件を考慮に入れて、光パルス通過時間測定原理で動作するレーザー測距装置を提供する。【解決手段】測距装置はマイクロレーザーを有する。このレーザー測距装置は光パルスの通過時間を測定する原理で作動し、受動スイッチングマイクロレーザー(2)、対象(4)によって反射された光パルス(18、19)を受光しかつ前記パルスの受光時間を検出するための手段(6、10)、マイクロレーザー(2)からのパルスの射出時間を検出するための手段(8、10)、反射ビーム時間とを分離して時間間隔又は時間スロットを測定するための手段(12)からなる。

Claim (excerpt)：

光パルスの通過時間を測定する測定原理で作動し、受動スイッチングマイクロレーザーと、対象から反射された光パルスを受光しかつ該光パルスの受光時間を検出する手段と、マイクロレーザーパルスの射出時間を検出する手段と、マイクロレーザーパルス射出時間を反射ビーム受光時間から分離して時間間隔を測定する手段とからなるマイクロレーザー付き測距装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (9)

特表昭61-500995
特開平2-005490
特開平4-056293

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Cited by examiner (12)

特開平2-005490
特開平2-005490
イツトリウムおよびランタニドの混合単相シリケートおよびこれらのシリケートの単結晶を使用するレーザ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-301203 Applicant：コミツサリアタレネルジーアトミーク

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