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J-GLOBAL ID:200903042936877060
対象物の案内のための座標変換法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
山口 巖
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001262748
Publication number (International publication number):2002186603
Application date: Aug. 31, 2001
Publication date: Jul. 02, 2002
Summary:
【要約】【課題】 X線装置(1)により撮像すべき第1の対象物(P)の座標系(OW)と、第1の対象物(P)に対して相対的に案内すべき第2の対象物(10)の座標系(OI)との間の座標変換を求めるための方法を提供する。【解決手段】 本発明は位置捕捉システム(2)の座標系(OS)と第1の対象物(P)の座標系(OW)との間の変換関係をオフライン較正過程で求めること、第1の対象物(P)のX線撮像の間のX線装置(1)の位置を決定すること、および位置捕捉システム(2)による第2の対象物(10)の位置を決定することに基づく。
Claim (excerpt):
X線装置(1)により撮像すべき第1の対象物(P)の座標系(OW)と、第1の対象物(P)に対し相対的に案内すべき第2の対象物(10)の座標系(OI)との間の座標変換を求めるための方法であって、X線装置(1)および第2の対象物(10)の位置を求めるための位置捕捉システム(2)が存在する場合に用いる方法において、下記のステップ、a)X線装置(1)により第1の対象物(P)からの像情報を取得する前に1つの較正過程で位置捕捉システム(2)、X線装置(1)および第1の対象物(P)の座標系の間の変換関係L、VおよびSを求めるステップ(ここでLはX線装置(1)に配置されて おり位置捕捉システム(2)と共同作用する標式(22)の座標系(OT)と位置捕捉システム(2)の座標系(OS)との間の座標変換、Vは位置捕捉システム(2)の座標系(OS)と第1の対象物(P)の座標系(OW)との間の座標変換、そしてSは第 1の対象物(P)に対して相対的なX線装置(1)の参照位置に対する標識(22)の座標系(O T)と第1の対象物(P)の座標系(OW)との間の座標変換を表す)、b)X線装置(1)および位置捕捉システム(2)の互いに相対的な変更された位置の結 果として、X線装置(1)により第1の対象物(P)からの像情報を取得する間に較正に比べて変更された、標識(22)の座標系(OT)と位置捕捉システム(2)の座標 系(OS)との間の座標変換L'を求めるステップ、又はX線装置(1)により第1の 対象物(P)からの像情報を取得する間に較正に比べて変更された、第1の対象物(P)に対して相対的なX線装置(1)の参照位置に対する標識(22)の座標系(OT)と位置捕捉システム(2)の座標系(OS)との間の座標変換L'を求めるステップ、c)第2の対象物(10)の座標系(OI)と位置捕捉システム(2)の座標系(OS)との間の座標変換L"を求めるステップ、およびd)ステップa)ないしc)で求めた座標変換V、L、L'、LS'、L"とSを手がかりにして第2の対象物(10)の座標系(OI)と第1の対象物(P)の座標系(OW)との間の座標変換を求めるステップを含むことを特徴とする方法。
IPC (4):
A61B 6/00
, A61B 6/12
, G01B 15/00
, G01B 21/00
FI (4):
A61B 6/12
, G01B 15/00 A
, G01B 21/00 A
, A61B 6/00 350 Z
F-Term (22):
2F067AA04
, 2F067AA13
, 2F067CC19
, 2F067FF11
, 2F067HH04
, 2F067JJ03
, 2F067KK06
, 2F067LL16
, 2F067NN05
, 2F067PP03
, 2F067UU05
, 2F067UU33
, 2F069AA01
, 2F069GG04
, 2F069GG07
, 2F069GG58
, 2F069HH30
, 2F069NN00
, 4C093AA07
, 4C093FF35
, 4C093FF42
, 4C093FG20
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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X線像形成における位置検出の方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-016090
Applicant:コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
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X線診断装置及び放射線診断装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-190766
Applicant:株式会社東芝
Article cited by the Patent:
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