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J-GLOBAL ID：200903042993695890
テストピース
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
重野 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992133361
Publication number (International publication number)：1993322831
Application date： May. 26, 1992
Publication date： Dec. 07, 1993
Summary：
【要約】【目的】 孔食のモニタリングにおいて、実機配管腐食を敏感に反映して実機配管における孔食の発生を確実に予知することができ、しかも、容易に製作かつ使用することができるテストピースを提供する。【構成】 配管の孔食のモニタリングに用いるテストピースであって、被モニタリング配管と同一又は同質の材質からなり、かつ、表面の酸化皮膜を不均一化した、半割又は略半割管形状のテストピース。【効果】 配管の孔食をモニタリングする方法において、被モニタリング配管の腐食の進行を高感度に反映し、孔食の発生を確実に予知することができる、モニタリング機能に優れたテストピースが提供される。
Claim (excerpt)：
配管の孔食のモニタリングに用いるテストピースであって、被モニタリング配管と同一又は同質の材質からなり、かつ、表面の酸化皮膜を不均一化した、半割又は略半割管形状のテストピース。
IPC (3)：
G01N 27/26 351
, G01N 1/28
, G01N 17/00
