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J-GLOBAL ID：200903043008432674

断層撮影装置による画像データの取得および評価方法

Inventor： ヘルベルト ブルーダー ,  トーマス フロール ,  ビョルン ハイスマン ,  ライナー ラウパッハ ,  カール シュティールシュトルファー
Applicant, Patent owner： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
Agent (1)： 山口 巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005017166
Publication number (International publication number)：2005211655
Application date： Jan. 25, 2005
Publication date： Aug. 11, 2005
Summary：

【課題】短縮された走査時間にて追加情報および特殊な画像表示を得る。【解決手段】検査対象(3)の検査範囲から異なるスペクトル分布で少なくとも2つの撮影が記録され、両撮影から得られた測定データが、異なるスペクト分布から検査範囲に関する追加情報および/または検査範囲の特殊な画像表示が得られるように評価される、断層撮影装置(1)による画像データの取得および評価方法において、少なくとも2つの別々の撮影システム(8〜11)を有する断層撮影装置(1)が使用され、両撮影システム(8〜11)が異なるスペクトル分布で動作するように作動させられる徴とする。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

検査対象(3)の検査範囲から異なるスペクトル分布で少なくとも2つの撮影が記録され、両撮影から得られた測定データが、異なるスペクト分布から検査範囲に関する追加情報および/または検査範囲の特殊な画像表示が得られるように評価される、断層撮影装置(1)による画像データの取得および評価方法において、 少なくとも2つの別々の撮影システム(8〜11)を有する断層撮影装置(1)が使用され、両撮影システム(8〜11)が異なるスペクトル分布で動作するように作動させられる ことを特徴とする断層撮影装置による画像データの取得および評価方法。

IPC (1)：

A61B6/03

FI (3)：

A61B6/03 373 ,  A61B6/03 370G ,  A61B6/03 375

F-Term (13)：

4C093AA22 ,  4C093AA24 ,  4C093BA03 ,  4C093CA21 ,  4C093CA37 ,  4C093DA02 ,  4C093EA02 ,  4C093EA07 ,  4C093EB11 ,  4C093EB18 ,  4C093FF21 ,  4C093FF33 ,  4C093FF50

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

• 米国特許第4991190号明細書
  
• 独国特許出願公開第10302565号明細書
  
• 米国特許第4247774号明細書
  
• 独国特許出願公開第10143131号明細書
  

Cited by examiner (4)

• CT装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-320653   Applicant：株式会社東芝
• 放射線撮影装置、放射線撮影方法、放射線画像用システム、プログラム、及びコンピュータ可読記憶媒体
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-101208   Applicant：キヤノン株式会社
• 放射線治療計画システム
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-130592   Applicant：株式会社日立メディコ
• エネルギー別放射線強度解析装置、媒体、および情報集合体
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-217946   Applicant：松下電器産業株式会社