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J-GLOBAL ID：200903043021417080

アレイ超音波探傷法及びその装置

Inventor： 増田 智紀 ,  伊藤 一博
Applicant, Patent owner： 東京瓦斯株式会社
Agent (1)： 大橋 弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996066151
Publication number (International publication number)：1997257763
Application date： Mar. 22, 1996
Publication date： Oct. 03, 1997
Summary：

【要約】【目的】 アレイ超音波探傷法において、反射体の寸法を正確に測定する。【解決手段】 アレイ探触子1を素子2...の配列方向に走査しつつ受信感度分布計算器5で受信感度分布を計算すると共にピーク検出器6で分布のピークを検出し、前記ピークが送信素子群の中心から一定の距離に収まる最大走査量を求めてこの値から反射体(きず)の寸法を評価する。

Claim (excerpt)：

アレイ探触子を素子の配列方向に走査することにより素子間の受信感度分布とこの分布のピークを検出し、前記ピークが送信素子群の中心から一定の距離に収まる最大走査量を求めてこの値から反射体の寸法を評価するアレイ超音波探傷法。

IPC (3)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/22 504 ,  G01N 29/24 502

FI (3)：

G01N 29/10 505 ,  G01N 29/22 504 ,  G01N 29/24 502