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J-GLOBAL ID:200903043086174134
プラズマCVD方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高橋 光男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994139765
Publication number (International publication number):1996008212
Application date: Jun. 22, 1994
Publication date: Jan. 12, 1996
Summary:
【要約】【目的】 微細でアスペクト比の大きな接続孔内へ、含有塩素量が小さく、ステップカバレッジに優れたTiNバリアメタル層を形成するプラズマCVD方法を提供する。【構成】 低TiCl4 分圧のプラズマCVDによる第1のTiN層51と、高TiCl4 分圧のプラズマCVDによる第2のTiN層52を連続して形成する2段階プラズマCVDを採用する。【効果】 下地Ti層4との界面に偏析しやすい塩素量を低減でき、Al系金属層6のアフターコロージョンを防止できる。また低塩素量なのでコンタクト抵抗の減少にも寄与する。
Claim (excerpt):
Ti系ガス、H2 および窒素系ガスを含む混合ガスを用いて被処理基板上にTiNを形成するプラズマCVD方法において、該混合ガス中の前記Ti系ガスの混合比を小とした第1のプラズマCVD工程と、該混合ガス中の前記Ti系ガスの混合比を大とした第2のプラズマCVD工程とをこの順に施すことを特徴とする、プラズマCVD方法。
IPC (3):
H01L 21/285
, C23C 16/18
, C23C 16/34
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