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J-GLOBAL ID：200903043106689764

眼科装置

Inventor： 岡本 忠志
Applicant, Patent owner： 株式会社トプコン
Agent (1)： 西脇 民雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994015296
Publication number (International publication number)：1995222716
Application date： Feb. 09, 1994
Publication date： Aug. 22, 1995
Summary：

【要約】【目的】 被検眼の白内障等による混濁の状態を意識することなく被検眼の角膜形状および眼内寸法の測定を精度よく行うことができる眼科装置を提供する。【構成】 角膜位置測定系100と、干渉光学系101とからなる眼科装置において、干渉光学系101は、測定光路170と参照光路180と受光素子145の他、被測定眼の瞳孔の範囲内で瞳孔の表面における測定光束の入射位置を移動させる光束移動手段(160,161,162)を備え、瞳孔の混濁部を避けて測定光束を瞳孔に入射するようにした。

Claim (excerpt)：

幾何光学的原理を利用して角膜頂点位置を測定する角膜位置測定系と、眼内測定対象物位置を測定する干渉光学系とからなる眼科装置において、上記干渉光学系は、光源からの射出光を測定光束として被測定眼の瞳孔を通して眼内測定対象物に照射すると共にその反射光束を導く測定光路と、参照光束として光軸方向に可動の参照面に照射すると共にその反射光束を導く参照光路と、両反射光束が合成されて生成される干渉光を受光する受光素子と、上記被測定眼の瞳孔の範囲内で瞳孔の表面における上記測定光束の入射位置を移動させる光束移動手段とを備えたことを特徴とする眼科装置。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 眼内寸法測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-125241   Applicant：株式会社トプコン
• 特開昭52-124797
  
• 特開平2-111337
  

Cited by examiner (3)

• 眼内寸法測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-125241   Applicant：株式会社トプコン
• 特開昭52-124797
  
• 特開平2-111337