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J-GLOBAL ID：200903043182959452
デフォーカス画像を用いて表面状態を2値化する方法および装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
中村 稔 (外6名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992209013
Publication number (International publication number)：1994062407
Application date： Aug. 05, 1992
Publication date： Mar. 04, 1994
Summary：
【要約】【目的】 平板状表面のしみ、よごれ、変色域、穴、くぼみ、突起や条痕等の自動的な定量化とそれに基づく平板状表面の性状の定量的判定を行えるような方法および装置を提供することである。【構成】 ある表面のフォーカス画像を表わす第1のデジタルデータを作成し、その表面のデフォーカス画像を表わす第2のデジタルデータを作成し、各画素毎に第1のデジタルデータと第2のデジタルデータとの差を計算し、その計算結果の正負にしたがって2レベル値の一方または他方の値を割り当てていくことにより2値化データを作成し、その表面状態を2値化する。【効果】 表面状態の2値化のために要する処理時間の大幅な短縮を図ることができ、特に大がかり画像処理を行わないため、専用の画像処理装置を必要とせず、ハードウエアのコストを低く抑えることができる。また、暗室等の特別な施設を必要としないので、工場内の通常の環境で扱うことができる。
Claim (excerpt)：
ある表面のフォーカス画像を表わす第1のデジタルデータを作成し、前記表面のデフォーカス画像を表わす第2のデジタルデータを作成し、各画素毎に前記第1のデジタルデータと前記第2のデジタルデータとの差を計算し、その計算結果の正負にしたがって2レベル値の一方または他方の値を割り当てていくことにより2値化データを作成することを特徴とする表面状態を2値化する方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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