Pat
J-GLOBAL ID:200903043202779448
半導体ウェハと液晶ディスプレーの自動欠陥分類における増加的同時学習方法及び装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
中村 稔 (外9名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2000501476
Publication number (International publication number):2001509619
Application date: Jun. 30, 1998
Publication date: Jul. 24, 2001
Summary:
【要約】増加的同時学習法は、潜在欠陥(60)と構成情報(63)の提供、及び、異なる処理サイクルでの複数の結果からの知識欠陥データベース(86)からの第一の分類ルールど第2の分類ルール選定(84)で始まる。そして、本方法は、真偽の問合せ(80)を実施して、第1の分類ルールと第2の分類ルール選定で使用するために、分類ルールデータベース(86)を更新する(61)。本方法は第1の欠陥分類を実施し(62)、分類の信頼度を確認し(64)、そして、もし、信頼度が高くないならば、第2の欠陥分類を実施する(66)。もし、第2の欠陥分類の信頼度が高くないならば(70)、新しい欠陥が発見されたかもしれず、新しい欠陥検知ステップ(76)が実施され、アーチファクト(78)又は潜在的な新しい欠陥タイプを規定して、真偽の問合せ(80)のための情報を提供する。
Claim (excerpt):
自動欠陥分類における増加的同時学習方法において、(a) 欠陥イメージに真理ラベル(40)を与えるステップと、(b) コンテキスト感知セグメンテーションを実行してセグメント化された出力(42)を発生するステップと、(c) セグメント化されたイメージ出力から一セットの包括的な特徴を抽出して特徴出力(44)を与えるステップと、(d) 自動特徴選択(46)とアプリケーション特徴セット出力(60)を有する特徴出力の変換とを実行するステップと、(e) 自動分類ルール発生(48)を実行して自動特徴選択及び変換のための分類ルールを与えるとともに初期分類ルール(62)を与えるステップと、(f) 新しい潜在的欠陥(50)を与えるステップと、(g) 新しい潜在的欠陥(50)のコンテキスト感知セグメンテーションを実行するステップと、(h) 潜在的欠陥(54)の特徴抽出を実行するステップと、(i) 初期分類ルール(62)を使用して抽出された潜在的欠陥の特徴分類(56)を実行して欠陥分類(58)を与えるステップと、ことから成る方法。
IPC (4):
G06T 7/00
, G01B 11/30
, G06F 17/00
, H01L 21/66
FI (5):
G01B 11/30 A
, H01L 21/66 J
, H01L 21/66 Z
, G06F 15/62 405 A
, G06F 15/20
F-Term (43):
2F065AA49
, 2F065CC19
, 2F065CC25
, 2F065FF42
, 2F065MM02
, 2F065PP12
, 2F065PP24
, 2F065QQ01
, 2F065QQ03
, 2F065QQ21
, 2F065QQ23
, 2F065QQ25
, 2F065QQ41
, 2F065RR05
, 2F065RR06
, 4M106AA01
, 4M106CA16
, 4M106CA39
, 4M106CA41
, 4M106CA45
, 4M106CA46
, 4M106CA70
, 4M106CB19
, 4M106DB01
, 4M106DB07
, 4M106DB21
, 4M106DH01
, 4M106DJ20
, 4M106DJ21
, 4M106DJ38
, 4M106DJ40
, 5B049AA02
, 5B049BB07
, 5B049EE05
, 5B049EE07
, 5B049EE11
, 5B049EE51
, 5B057AA03
, 5B057BA26
, 5B057BA30
, 5B057DA03
, 5B057DA12
, 5B057DC40
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