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J-GLOBAL ID：200903043323965516
非破壊検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995015422
Publication number (International publication number)：1996210994
Application date： Feb. 01, 1995
Publication date： Aug. 20, 1996
Summary：
【要約】【目的】 判定結果の信頼性を向上させ、かつ、処理能力を高めることのできる非破壊検査装置を提供する。【構成】 X線や超音波等を、検査対象領域に照射し、その透射像又は反射像のプロファイルに基づいて被検査物体を非破壊にて検査するに当たり、正常な物体のプロファイルに対応する基準データが予め内部に登録され、この基準データと被検査物体のプロファイルのデータとを比較して被検査物体の合否を判定する判定手段を備える。
Claim (excerpt)：
X線や超音波等を、検査対象領域に照射し、その透射像又は反射像のプロファイルに基づいて被検査物体を非破壊にて検査する非破壊検査装置において、正常な物体のプロファイルに対応する基準データが予め内部に登録され、この基準データと前記被検査物体のプロファイルのデータとを比較して前記被検査物体の合否を判定する判定手段を備えたことを特徴とする非破壊検査装置。
IPC (3)：
G01N 23/04
, G01N 29/10
, G01N 29/22 501
