Pat
J-GLOBAL ID:200903043345270678
フリーラジカル消去能の測定方法
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
熊倉 禎男
, 小川 信夫
, 箱田 篤
, 浅井 賢治
, 平山 孝二
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007326177
Publication number (International publication number):2009150651
Application date: Dec. 18, 2007
Publication date: Jul. 09, 2009
Summary:
【課題】フリーラジカルそのものの増減を直接検出し、フリーラジカル消去能を測定する方法を提供すること。【解決手段】被検試料、ラジカル発生剤、及びスピントラップ剤を含む被検試料溶液にUV光を照射し、生成したフリーラジカルの電子常磁性共鳴(EPR)信号の強度を測定し、被検試料を含まない対照試料に対して測定されたEPR信号の強度に対する相対強度を求めることを特徴とするフリーラジカル消去能の測定方法。【選択図】なし
Claim (excerpt):
被検試料、ラジカル発生剤、及びスピントラップ剤を含む被検試料溶液にUV光を照射し、生成したフリーラジカルの電子常磁性共鳴(EPR)信号の強度を測定し、被検試料を含まない対照試料に対して測定されたEPR信号の強度に対する相対強度を求めることを特徴とするフリーラジカル消去能の測定方法。
IPC (1):
FI (2):
G01N24/10 510R
, G01N24/10 510L
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (4)