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J-GLOBAL ID：200903043374366129

荷電粒子検出装置

Inventor： 廣岡 恵
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995155191
Publication number (International publication number)：1996327742
Application date： May. 29, 1995
Publication date： Dec. 13, 1996
Summary：

【要約】【目的】 ダイナミックレンジを広くする。【構成】 透明がラス基板30の表面には蛍光体のシンチレータ32が設けられ、対向する一対の端面の一方には光電子増倍管40a、他方には他の光電子増倍管40bが設置され、両光電子増倍管40a,40bのゲインが互いに異なる大きさに設定されている。ガラス基板30の裏面及び光電子増倍管40a,40bの設置されていない端面には光反射層36が形成されている。両光電子増倍管40a,40bにはシンチレータ32から発生する光が光反射層36で反射して同量ずつ入射し、互いにゲインの異なる出力信号を発生する。

Claim (excerpt)：

透明ガラス基板の表面にシンチレータが形成され、その透明ガラス基板の対向する一対の端面には互いにゲインの異なる光電子増倍管がそれぞれ設置され、その透明ガラス基板の裏面及び光電子増倍管の設置されていない端面が光反射面になっていることを特徴とする荷電粒子検出装置。