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J-GLOBAL ID：200903043376859653

MS/MS型質量分析装置

Inventor： 田中 靖文 ,  廣岡 恵
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994052999
Publication number (International publication number)：1995240171
Application date： Feb. 24, 1994
Publication date： Sep. 12, 1995
Summary：

【要約】【目的】 できるだけ多くの目的イオンが全四重極をスムーズに通過するようにして、高感度の分析を行なうことができるようにする。【構成】 第1段四重極Q1及び第3段四重極Q3にそれぞれプリロッド四重極P1、P2を設けるとともに、各四重極Q1、Q2、Q3、P1、P2毎に設けた駆動電圧供給装置26〜38に対して単一の高周波源41から同一周波数、同一位相の高周波を供給するようにした。

Claim (excerpt)：

イオン源から送り込まれる粒子中、所定の質量を持つイオンのみを通過させる第1段四重極と、第1段四重極を通過したイオンである親イオンを開裂させる第2段四重極と、第2段四重極で生成されたイオン中、所定の質量を持つ娘イオンのみを通過させる第3段四重極と、イオン開裂用のガスを保持するために第2段四重極を覆うように設けられた衝突室と、全体を覆う真空室とを備えたMS/MS型質量分析装置において、第1段四重極及び第3段四重極にそれぞれ第1段プリロッド四重極及び第3段プリロッド四重極を設けるとともに、第1段四重極、第1段プリロッド四重極、第2段四重極、第3段プリロッド四重極及び第3段四重極のそれぞれに独立の駆動電圧供給装置を設け、単一の高周波発生装置から各駆動電圧供給装置に基準周波数信号を供給するようにしたことを特徴とするMS/MS型質量分析装置。

IPC (2)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開昭62-264546
  
• 特許第4329582号
  
• 四重極質量分析計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-247413   Applicant：株式会社島津製作所