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J-GLOBAL ID:200903043382112683

環境状態測定方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 中島 淳 (外3名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997345283
Publication number (International publication number):1999173925
Application date: Dec. 15, 1997
Publication date: Jul. 02, 1999
Summary:
【要約】【課題】 被測定空間内の温度分布を高精度に求める。【解決手段】 被測定空間24の周縁部の多数箇所に、スピーカ、マイクロフォン及び温度センサを備えたノード12を各々設け、多数の測定対象区間(ノード12の間を結ぶ線で示す)における音波の伝搬時間をスピーカ及びマイクロフォンによって測定すると共に、各ノード12において、空間24を区画している壁体22の壁面から、壁体22の温度の影響を受けない所定距離以上離れた位置の温度を温度センサによって測定する。そして、各測定対象区間における音波の伝搬時間から、空間24内の各箇所(ボクセル) を通過する音波の速度を求める連立方程式を立て、各ノードで測定した温度を連立方程式に代入した後に、連立方程式を解いて前記各箇所における音速を求め、前記各箇所における温度(空間24内の温度分布)を求める。
Claim (excerpt):
被測定空間の周縁部の互いに異なる複数箇所の間の音波の伝搬時間を各々測定すると共に、前記被測定空間内でかつ前記被測定空間を区画する壁体から所定距離離れた位置の温度を測定し、前記複数箇所の間の音波の伝搬時間、及び前記壁体から所定距離離れた位置の温度に基づいて、前記被測定空間内の温度分布を演算により求める環境状態測定方法。
IPC (5):
G01K 11/24 ,  G01H 5/00 ,  G01N 29/18 ,  G01W 1/02 ,  F24F 11/02 103
FI (5):
G01K 11/24 ,  G01H 5/00 ,  G01N 29/18 ,  G01W 1/02 A ,  F24F 11/02 103 A
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (6)
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