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J-GLOBAL ID：200903043454647013

作業調査分析システム、作業分析装置、および作業調査分析方法

Inventor： 小沢 英明
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 服部 毅巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001336547
Publication number (International publication number)：2003140728
Application date： Nov. 01, 2001
Publication date： May. 16, 2003
Summary：

【要約】【課題】 複数の装置で行われた作業内容と作業時間とを自動で記録できるようにする。【解決手段】 観測装置2は、工場1内におけるオペレータ1gの位置を観測する。生産管理装置3は、複数の装置1a〜1fそれぞれで発生したイベント毎にイベントの内容とイベント発生時刻とを、生産管理情報3aとして格納する。作業分析装置4は、オペレータ1gの位置と複数の装置1a〜1fの位置とからオペレータ1gが複数の装置1a〜1fそれぞれの近傍に滞在した時間帯を判断する(ステップS1)。次に、作業分析装置4は、時間帯内にオペレータ1gの近傍の装置で発生したイベントの内容を生産管理情報3aから抽出し(ステップS2)、抽出したイベントの内容と時間帯とを関連づけて、作業分析情報を生成する(ステップS3)。

Claim (excerpt)：

工場内でのオペレータの作業内容の調査分析を行う作業調査分析システムにおいて、前記工場内に配置され、前記オペレータの作業が行われるときにイベントを発生させる複数の装置と、前記複数の装置の動作を監視し、前記複数の装置それぞれで発生したイベント毎に当該イベントの内容とイベント発生時刻とを、生産管理情報として格納する生産管理装置と、前記工場内における前記オペレータの位置を観測する観測装置と、前記観測装置で観測された前記オペレータの位置と前記複数の装置の所定の位置とから前記オペレータが前記複数の装置それぞれの近傍に滞在した時間帯を判断し、前記時間帯内に前記オペレータの近傍の装置で発生した近傍発生イベントの内容を前記生産管理情報から抽出し、抽出した前記近傍発生イベントの内容と前記時間帯とを関連づけて、作業分析情報を生成する作業分析装置と、を有することを特徴とする作業調査分析システム。

IPC (4)：

G05B 19/418 ,  G01D 9/00 ,  G01D 21/00 ,  G06F 17/60 108

FI (5)：

G05B 19/418 Z ,  G01D 9/00 A ,  G01D 9/00 X ,  G01D 21/00 M ,  G06F 17/60 108

F-Term (21)：

2F070AA20 ,  2F070CC03 ,  2F070CC11 ,  2F070DD12 ,  2F070FF13 ,  2F070GG07 ,  2F070GG08 ,  2F070HH05 ,  2F076BA01 ,  2F076BD17 ,  2F076BE04 ,  2F076BE05 ,  2F076BE08 ,  2F076BE12 ,  2F076BE17 ,  3C100AA22 ,  3C100AA23 ,  3C100BB03 ,  3C100BB17 ,  3C100BB33 ,  3C100CC14