Pat
J-GLOBAL ID：200903043484300743

修正知識獲得装置、推論装置、修正知識獲得方法及び推論方法

Inventor：
大嶽 康隆

About 大嶽 康隆


Applicant, Patent owner：
株式会社東芝

About 株式会社東芝


Agent (1)： 須山 佐一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995168571
Publication number (International publication number)：1997016402
Application date： Jul. 04, 1995
Publication date： Jan. 17, 1997
Summary：
【要約】【課題】 知識の獲得や知識の修正が容易で、しかも正確な解を導出すること。【解決手段】 修正知識獲得部10では、問題入力部12から入力された問題は、知識ベース推論部13に既存知識ベース14を基に推論を行い一次解を導出する。事例ベース推論部15で知識ベース推論部13で一次解を導出した過程を検索キーとして生成し、この検索キーを用いて例外事例ベース18を例外事例ベース検索部17によって検索する。続いて例外事例をもとに既存知識ベース14を矛盾点追跡し、矛盾知識を専門家に提示しメタルールを得る。推論実行時には、ここで獲得したメタルールを既存知識ベース14に適用し推論実行する。
Claim (excerpt)：
解を導出するための問題が入力される問題入力部と、問題に対する解を推論するための知識を格納する既存知識ベースと、この既存知識ベースに格納された知識に基づき、前記問題入力部より入力された問題に対する一次解を推論する知識ベース推論部と、過去に解決した問題を例外事例として格納する例外事例ベースと、所定の検索キーを用いて、前記例外事例ベースより前記問題入力部より入力された問題に対応する例外事例を検索する事例ベース推論部と、前記事例ベース推論部による検索結果に応じて、前記既存知識ベースに格納された知識を修正するためのメタルールを獲得するメタルール獲得部と、このメタルール獲得部によりメタルールが獲得された場合には当該メタルールを関係付け、前記問題入力部より入力された問題を前記例外事例ベースに格納する手段とを具備することを特徴とする修正知識獲得装置。
IPC (2)：
G06F 9/44 550 ,  G06F 9/44 580
FI (2)：
G06F 9/44 550 N ,  G06F 9/44 580 P
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM