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J-GLOBAL ID：200903043509197462

レンチキュラーレンズシートの欠陥検査方法

Inventor： 長谷川 潤 ,  中西 稔
Applicant, Patent owner： 大日本印刷株式会社
Agent (1)： 小西 淳美
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995025795
Publication number (International publication number)：1996201222
Application date： Jan. 23, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 益々の高品位化、多量産化に対応できるブラックストライプの白欠陥検出検査方法を提供する。【構成】 レンチキュラーレンズシートを一定速度で移動させながら、該レンチキュラーレンズシートの欠陥を検出する欠陥検査方法であって、照明手段がレンチキュラーレンズシート面となす角を所定の角度θ1に設定してレンチキュラーレンズシートを撮像した際、所定の直線領域を反射暗視野光にて撮像する線状領域撮像手段の撮像視野がレンチキュラーレンズの方向となす角θの値をふり、線状領域撮像手段により得られた画像信号(データ)に対し、種々のθ値に対応する欠陥部の微分信号S1と欠陥周辺部の微分信号の標準偏差N1を求め、欠陥部の微分信号S1と欠陥周辺部の微分信号の標準偏差N1との比S1/N1が極大になる角度θ2を求め、線状領域撮像手段のレンチキュラーレンズシート面となす角をθ2に設定し、撮像する。

Claim (excerpt)：

少なくとも、枚葉板状ないし連続する板状のレンチキュラーレンズシートの所定直線領域を、反射暗視野光にて撮像するための1個ないし複数の線状領域撮像手段と、該線状領域撮像手段に対し、撮像の為の反射暗視野照明を供給する照明手段と、線状領域撮像手段により得られた画像データに基づき欠陥の検出を行う画像処理手段とを備えて、レンチキュラーレンズシートを一定速度で移動させながら、該レンチキュラーレンズシートの欠陥を検出する欠陥検査方法であって、前記照明手段がレンチキュラーレンズシート面となす角を所定の角度θ1に設定してレンチキュラーレンズシートを撮像した際、前記所定の直線領域を反射暗視野光にて撮像する線状領域撮像手段の撮像視野がレンチキュラーレンズの方向となす角θの値をふり、線状領域撮像手段により得られた画像信号に対し、種々のθ値に対応する欠陥部の微分信号S1と欠陥周辺部の微分信号の標準偏差N1を求め、欠陥部の微分信号S1と欠陥周辺部の微分信号の標準偏差N1との比S1/N1が極大になる角度θ2を求め、線状領域撮像手段のレンチキュラーレンズシート面となす角をθ2に設定し、撮像することを特徴とするレンチキュラーレンズシートの欠陥検査方法。

IPC (5)：

G01M 11/00 ,  G01N 21/88 ,  G01N 21/89 ,  G06T 7/00 ,  G03B 21/60

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平1-260585
  
• 特開平2-116741
  
• 特開平3-015067
  
• 特開昭63-295948